ESD-Störfestigkeitsprüfungen

werden an Prüfobjekten durchgeführt, die auf Grund von Umgebungs- oder Installationsbedingungen Entladungen statischer Elektrizität ausgesetzt sind. Die Prüfstörgröße ist bekanntermaßen ein schneller steilflankiger Entladungsstromimpuls mit einer Flankensteilheit von 0,7 bis 1 ns. Grundlage für die Prüfungsdurchführung ist die Grundnorm DIN EN 61000-4-2. Bei der Prüfung wird das Prüfokjekt mit einer bestimmten Zahl solcher Impulse beaufschlagt. Unausgesprochen wird dabei davon ausgegangen, dass die prüftechnisch damit ermittelbare ESD-Störfestigkeit des Prüfobjekts innerhalb der Prüfzeitspanne eine zeitinvariante Größe darstellt. Diese Annahme trifft für rechnerbasierte Gerätetechnik aber leider nicht zu, da hier das Störfestigkeitsverhalten in starkem Maße von den internen hardware- und softwarebedingten Funktionsabläufen abhängt. Das heißt, im Zuge der während des Prüfprozesses funktionsrealisierenden Befehlsabarbeitung werden viele innere Schaltungszustände eingenommen, die sehr unterschiedlich auf äußere Störeinwirkungen reagieren. Insbesondere bei der Beaufschlagung mit ESD-Impulsen hängt es daher vom Zufall ab, ob beim Einwirken eines Testimpulses dieser gerade auf einen relativ unempfindlichen oder einen sehr störempfindlichen Schaltzustand trifft. Jedes Prüfergebnis, das notwendigerweise mit einer endlichen Testpulsmenge ermittelt wird, ist deshalb mit einer daraus resultierenden Unsicherheit behaftet. Tendenz: Je kleiner die angewandte Testpulszahl, desto größer die Unsicherheit. Diese Unsicherheit lässt sich mit den Mitteln der Statistik erfassen, zwar nicht beseitigen, jedoch quantifizieren und das Störverhalten des Prüfobjekts mittels einer sogenannten Störverhaltensfunktion eindeutig beschreiben. Diese Problematik, die in der Normung bislang keinen Eingang fand, wird von R. Vick ausführlich in Gonschorek: EMV für Geräteentwickler und Systemintegratoren, Kapitel 11 beschrieben